电波暗室与半电波暗室的区别
在电磁兼容（EMC）工程中，“电波暗室”通常特指全电波暗室（Fully Anechoic Chamber，FAR），而半电波暗室（Semi-Anechoic Chamber，SAC）则是另一种常见测试场地。两者的核心区别在于：地面是否铺设吸波材料，以及是否利用地面反射。
- 全电波暗室：六个面均铺设吸波材料，模拟自由空间传播条件，理论上没有反射波。
- 半电波暗室：四壁和天花板铺设吸波材料，地面为金属导电接地平面，模拟开阔试验场（OATS）的反射地面条件。
因此，FAR 更接近“无反射空间”，SAC 更接近“有地面反射的室外开阔场”。
结构差异
从物理结构看，两者差异明显：
- FAR：天花板、四壁、地面全部覆盖吸波体。地面吸波体需要承受 EUT、转台、天线等重量，通常采用承重设计或局部加固。
- SAC：仅五面覆盖吸波体，地面为金属接地平面，不铺吸波材料。EUT 和天线均位于接地平面上方。
- 吸波材料：常见为铁氧体瓦加楔形吸波体，覆盖频率可从 30 MHz 延伸至 18 GHz 甚至更高。
- 屏蔽壳体：两者均需高性能屏蔽，以隔离外界电磁干扰。
SAC 的地面反射不是缺陷，而是其工作机理的一部分；FAR 则要尽量消除包括地面在内的所有反射。
测试原理差异
FAR 中，电磁波按自由空间规律传播，接收场强与距离、天线增益相关，无需考虑地面反射干涉。天线高度通常固定，测试结果更接近自由空间理论值。
SAC 中，直射波与地面反射波会形成干涉，导致空间场强随高度和频率变化。因此在进行辐射发射测试时，需要：
- 将 EUT 置于转台上，通常高度为 0.8 m 或 1.5 m。
- 天线在 1 m 至 4 m 高度范围内升降。
- 转台 0° 至 360° 旋转。
- 接收机读取峰值、准峰值或平均值，寻找最大发射点。
这种“转台+天线塔”的扫描方式，正是为了捕捉地面反射带来的最大场强。
典型用途
半电波暗室主要用于辐射发射测试，例如：
- CISPR 11、CISPR 13、CISPR 32
- EN 55032、FCC Part 15
- 汽车电子 CISPR 25 等
它可在 3 m 或 10 m 测试距离下替代开阔试验场。
全电波暗室则更多用于：
- 辐射抗扰度测试，如 IEC 61000-4-3
- 无线通信、天线增益、方向图测量
- 汽车雷达、毫米波器件测试
- 部分允许自由空间修正的辐射发射测试
简言之，SAC 偏重“发射”，FAR 偏重“抗扰度与无线性能”。
校准与验证
两者都需要严格校准，但项目不同。
半电波暗室重点验证：
- 归一化场地衰减（NSA）：按 CISPR 16-1-4，检查场地衰减与理想 OATS 的偏差。
- 场地电压驻波比（SVSWR）：通常用于 1 GHz 至 18 GHz，评估场地反射。
- 转台、天线塔、接地平面连续性。
全电波暗室重点验证：
- 场均匀性（FU）：按 IEC 61000-4-3，在 16 点中至少 12 点满足 0～6 dB 容差。
- 静区反射电平、交叉极化、远场条件。
- 天线测量时还需确认相位中心与远场距离。
工程示例
示例一：3 m 半电波暗室辐射发射
EUT 放在 0.8 m 高转台上，天线距离 3 m，高度 1～4 m 扫描，转台 0～360° 旋转。接收机在 30 MHz～1 GHz 内扫描，记录准峰值。由于地面反射，某些频率会在特定天线高度出现最大值，这是 SAC 的正常现象。
示例二：全电波暗室辐射抗扰度
EUT 放在 0.8 m 高绝缘台上，天线距离 3 m，固定高度。按 IEC 61000-4-3 校准 16 点场均匀性，施加 3 V/m 或 10 V/m 场强，调制为 1 kHz、80% AM。由于无地面反射，场分布更均匀，测试重复性更好。
选型与常见误区
选型时可参考以下原则：
- 做辐射发射，优先选 SAC。
- 做辐射抗扰度、天线、无线通信，优先选 FAR。
- 若标准允许 FAR 做辐射发射，必须进行自由空间修正和相关性验证。
- 预算有限且以 EMC 发射测试为主，SAC 通常更经济。
- 需要毫米波、雷达或高精度天线测量，FAR 更合适。
常见误区包括：
- 认为 SAC 地面不铺吸波是“偷工减料”，实际上这是模拟 OATS 的必要设计。
- 认为 FAR 可以无条件替代 SAC 做辐射发射，忽略标准限制和修正要求。
- 忽略 NSA、SVSWR、FU 等场地验证，导致测试结果不可比。
小结
电波暗室与半电波暗室的核心区别在于地面反射。全电波暗室六面吸波，模拟自由空间，适合抗扰度、天线和无线测试；半电波暗室五面吸波、地面导电，模拟开阔场，适合辐射发射测试。工程选型应依据测试标准、频率范围、EUT 尺寸和预算综合决定，并重视场地校准与验证。